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多平面狹縫掃描光束分析儀BeamMap2  Collimate

多平面狹縫掃描光束分析儀BeamMap2 Collimate

時(shí)間:2025-07-29 類別:光學(xué)檢測/分析儀器 關(guān)注:29

多平面光束分析,適用于高度準(zhǔn)直光束,M2、發(fā)散角、指向性與焦點(diǎn)位置實(shí)時(shí)測量

BeamMap2 Collimate 經(jīng)代表了一種完全不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時(shí)掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個 Z 平面中的 XY 狹縫對同時(shí)測量四個不同 Z 位置的四個光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。與

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BeamMap2 Collimate 經(jīng)代表了一種完全不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時(shí)掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個 Z 平面中的 XY 狹縫對同時(shí)測量四個不同 Z 位置的四個光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。與標(biāo)準(zhǔn) BeamMap2 相比,BeamMap2 Collimate 經(jīng)過特別設(shè)計(jì),平面間距顯著增加了 5 毫米,以便用于準(zhǔn)直良好的光束。

BeamMap2系列狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

主要特點(diǎn):

  • 多種探測器選項(xiàng),覆蓋 190 至 2500 nm

  • 190 至 1150 nm,硅探測器

  • 650 至 1800 nm,InGaAs 探測器

  • 1800 至 2300/2500 nm,InGaAs(擴(kuò)展)探測器

  • 符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測量

  • 端口供電 USB 2.0

  • 自動增益功能

  • 可選載物臺配件,適用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測量

  • True2D? 狹縫

  • 分辨率達(dá) 0.1 μm

  • 5 Hz 更新率(可調(diào)節(jié)范圍為 2 至 10 Hz)

  • 輪廓連續(xù)/準(zhǔn)連續(xù)光束

  • 光束直徑 5 μm 至 4 mm

  • 多 z 平面掃描

  • XYZ 輪廓,加上 θ-Φ

  • 焦點(diǎn)位置和直徑

  • 實(shí)時(shí) M2、指向和發(fā)散測量

  • 以 ±1 μm 的重復(fù)性識別焦點(diǎn)(取決于光束)

典型應(yīng)用:

  • 非常小的激光光束輪廓分析

  • 光學(xué)組裝和儀器調(diào)校

  • OEM  集成

  • 鏡頭焦距測試

  • 實(shí)時(shí)診斷聚焦和對準(zhǔn)錯誤

  • 實(shí)時(shí)將多個組件設(shè)置到同一焦點(diǎn)

  • 使用可用的 M2DU 階段進(jìn)行 M2 測量

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

規(guī)格參數(shù):

項(xiàng)目說明
波長范圍Si 探測器:190 到 1150 nm
InGaAs 探測器:650 到 1800 nm
Si + InGaAs 探測器:190 到 1800 nm
Si + InGaAs(擴(kuò)展)探測器:190 到 2300 或 2500 nm
掃描光束直徑Si 探測器:5 μm 到 4 mm
InGaAs 探測器:10 μm 到 3 mm
InGaAs(擴(kuò)展)探測器:10 μm 到 2 mm
平面間距5 mm:-5、0、+5、+20 mm
光束腰直徑測量ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的二階矩(4σ)直徑;擬合高斯與平頂分布
1/e2(13.5%)寬度
可選擇的峰值百分比
光束腰位置測量X、Y、Z 三軸上最優(yōu) ± 20 μm — 請聯(lián)系 DataRay 獲取建議
可測光源類型連續(xù)光(CW)、準(zhǔn)連續(xù)光(Quasi-CW)
分辨率精度0.1 μm 或掃描范圍的 0.05%
± < 2% 或 ± 0.5 μm
M2 測量1 到 > 20,精度 ± 5%
發(fā)散度/準(zhǔn)直度、指向性測量最優(yōu) 1 mrad
最大功率與輻照度總功率 1 W,最大輻照度 0.5 mW/μm2
增益范圍1?000:1 可切換;4?096:1 ADC 范圍
顯示圖形X-Y 位置與剖面,縮放倍數(shù) x1 到 x16
更新速率~5 Hz,可調(diào)范圍 2 到 10 Hz
合格/不合格顯示屏幕上可選的合格/不合格顏色,適用于質(zhì)檢與生產(chǎn)
平均功能用戶可選的滑動平均(1 到 8 次采樣)
統(tǒng)計(jì)功能最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差可進(jìn)行長時(shí)間數(shù)據(jù)記錄
XY 剖面與重心顯示與記錄光束漂移情況
最低系統(tǒng)要求Windows 10 64-bit

輪廓圖:

多平面狹縫掃描光束分析儀BeamMap2 Collimate

詳情資料:狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2 Collimate系列

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